Институт кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН
Институ́т кристаллогра́фии и́мени А. В. Шу́бникова РАН (ИК РАН), научно-исследовательское учреждение в г. Москва. Создан в 1943 г. на базе Лаборатории кристаллографии АН СССР, организованной в 1937 г. Основатель и первый директор института – А. В. Шубников. В 1962–1996 гг. директор института Б. К. Вайнштейн, в 1998–2013 гг. – член-корреспондент РАН М. В. Ковальчук. Со дня основания в институте работал Н. В. Белов.
Институт кристаллографии – ведущий научный центр по изучению кристаллического состояния вещества. В институте проводятся исследования процессов образования кристаллов, их физических свойств, структуры с использованием рентгеновского и синхротронного излучений, нейтронов и электронов, исследуются наноматериалы. Созданные в институте аппаратура и методы выращивания кристаллов, включая кварц, лейкосапфир, лазерные кристаллы, составили основу отечественной промышленности синтетических кристаллов. В институте разработаны методы горизонтальной направленной кристаллизации, искусственной эпитаксии тонких плёнок, выращивания нитевидных кристаллов полупроводников, кристаллов белков и других биологически активных соединений, создания трековых мембран; проведены успешные эксперименты по выращиванию кристаллов в космосе. Учёные института внесли большой вклад в развитие теорий симметрии кристаллов, роста кристаллов, рассеяния рентгеновских лучей и электронов, в создание структурной электронографии, методов структурного анализа, малоуглового рассеяния, стоячих рентгеновских волн. В институте определено атомное строение сотен новых кристаллических материалов, от минералов до белков, открыты минералы икранит, расцветаевит, созданы новые сегнетоэлектрические и жидкие кристаллы, сцинтилляторы для детекторов ядерного излучения, суперионные проводники, магнитные и акустооптические кристаллические материалы. В Институте кристаллографии создана фурье-спектроскопия, открыты явление электрогирации, фотовольтаический и магнитопластический эффекты. В институте разработаны и внедрены в промышленность отечественные рентгеновские дифрактометры и спектрометры, созданы комплексы аппаратуры для источников синхротронного излучения.