Ме́тод малоуглово́го рассе́яния, разновидность дифракционного метода исследования неоднородностей в структуре вещества путём анализа распределения интенсивности упругого когерентного рассеяния монохроматического излучения, проходящего через образец. В случае хаотического расположения рассеивающих неоднородностей в образце картина малоуглового рассеяния (МУР) является аксиально-симметричной с максимумом вблизи направления падающего пучка. Вид кривой интенсивности МУР зависит от размеров неоднородностей, их формы и особенностей взаимного расположения. В методе МУР используется излучение с разными длинами волн λ, позволяющее изучать неоднородности в широком диапазоне размеров. Рентгеновское излучение (λ = 0,05–0,5 нм) выявляет неоднородности размером 0,5–200 нм, излучение видимого диапазона длин волн – от десятков нанометров до миллиметров, тепловые нейтроны (длина волны де Бройля 0,05–1 нм) – от 0,5 до 500 нм.
Так как распределение интенсивности рассеянного излучения измеряется под малыми углами, основное требование к экспериментальной технике (близкой по устройству к дифрактометрам для порошковой рентгеновской дифракции) заключается в создании достаточно узкого нерасходящегося пучка первичного излучения. Использование специальной коллимационной системы позволяет проводить измерения интенсивности рассеянного излучения при удалении в несколько угловых минут (и до 5–10°) от направления падающего излучения. Для регистрации рассеянного излучения используют точечные и линейные позиционно-чувствительные детекторы (основа которых – ионизационные камеры, фоточувствительные пластины, полупроводниковые матрицы) и др.
Важной особенностью МУР является возможность анализа внутреннего строения неупорядоченных систем в их естественном состоянии, без специальной подготовки образцов. К таким системам относятся гели, полимерные системы, гетерогенные системы с наночастицами, биомакромолекулы в растворе, аморфные сплавы, аэрозоли и др. Применяя излучение с длинами волн, соответствующими краям полос характеристического рентгеновского поглощения определённых химических элементов (т. н. метод аномального рентгеновского МУР), изучают неорганические наночастицы, находящиеся в сильно рассеивающей матрице, и исследуют структурное распределение этих элементов в образце. Характеристики рассеяния нейтронов зависят от изотопного состава объектов; использование поляризованных нейтронов позволяет исследовать детали магнитной атомной структуры вещества. Методом МУР определяют характеристики распределений рассеивающих неоднородностей по размерам, удельную площадь и толщину границы раздела между наноразмерными фазами, размер и форму частиц или пор в монодисперсных системах и т. д. При скользящем падении пучка метод МУР даёт информацию о структуре поверхности и наноразмерных покрытий.
МУР рентгеновского излучения впервые наблюдали в 1-й трети 20 в. многие исследователи, занимавшиеся рентгеновским структурным анализом. В 1930–1940-х гг. рядом учёных [А. Гинье и Ж. Фурне (Франция), О. Кратки (Австрия) и др.] были разработаны основы теории интерпретации данных МУР. Развитие теории и аппаратурного обеспечения МУР интенсивно продолжается и в 21 в.