#Экспериментальные структурные методы исследования веществаЭкспериментальные структурные методы исследования веществаИсследуйте Области знанийУ нас представлены тысячи статейТегЭкспериментальные структурные методы исследования веществаЭкспериментальные структурные методы исследования веществаНайденo 3 статьиМетоды анализаМетоды анализа Ядерная спектроскопияЯ́дерная спектроскопи́я, совокупность методов исследования атомных ядер по их излучению, сопровождающему ядерные превращения и переходы ядер из одного состояния в другое. Целью ядерной спектроскопии является определение энергии, спинов, чётностей, изотопических спинов и электромагнитных моментов ядерных состояний. Спектроскопические характеристики ядерных состояний необходимы для выяснения структуры атомных ядер и получения сведений о ядерных силах.Технологии ИнтроскопияИнтроскопи́я, визуальное наблюдение объектов, явлений и процессов в оптически непрозрачных телах и средах, а также в условиях плохой видимости. Методы и средства интроскопии позволяют обнаруживать и идентифицировать различные отклонения от заданных свойств (параметров) тел, сред, изделий, исследовать явления и процессы, происходящие в полупрозрачных и непрозрачных средах. Некоторые из методов интроскопии (наряду с дефектоскопией) нашли применение при неразрушающем контроле промышленных изделий и материалов.Физические процессы, явления Дифракция рентгеновских лучейДифра́кция рентге́новских луче́й, упругое рассеяние пучка рентгеновских лучей кристаллическим, аморфным, жидким или газовым образцом с возникновением дифракционных лучей, отклонённых от направления распространения первичного рентгеновского пучка. Дифракция рентгеновских лучей обусловлена пространственной когерентностью вторичных волн, появляющихся при взаимодействии рентгеновского излучения с электронами атомов вещества. Пространственное расположение максимумов рассеянного рентгеновского излучения и их интенсивность несут информацию об элементном составе образца, атомной структуре и о её дефектах, поэтому дифракция рентгеновских лучей легла в основу рентгеновского структурного анализа и рентгенографии материалов.
