Выходно́й контро́ль (в приборостроении), совокупность контрольно-измерительных операций, проводимых в конце производственного процесса для выявления годных, некондиционных или потенциально негодных изделий. К выходному контролю часто относят различные испытания изделий на надёжность, а также испытания для определения допустимых границ изменения условий и режимов эксплуатации контролируемых изделий. Нередко помимо выявления годных и негодных изделий электронной техники (ИЭТ) в процессе выходного контроля осуществляется их разделение на группы по точности, идентичности параметров и др. В электронном приборостроении выходному контролю подвергаются практически все виды ИЭТ – от простых элементов (резисторов, конденсаторов, полупроводниковых диодов и т. п.) до сложнейших электронных устройств (больших интегральных схем (БИС), сверхбольших интегральных схем (СБИС), микропроцессоров и др.). Результаты выходного контроля используются для управления качеством ИЭТ и увеличения процента выхода годных изделий.

Выходной контроль осуществляется с помощью системы контрольно-измерительных устройств, обеспечивающих измерение параметров изготовляемых ИЭТ и проверку их работоспособности при различных режимах. К контрольно-измерительным устройствам, входящим в состав оборудования выходного контроля (ВКО), предъявляются повышенные требования, особенно по точности измерений – важнейшему определяющему фактору при выбраковке изделий и определении процента выхода годных ИЭТ.

Состав комплекса контрольно-измерительных устройств для выходного контроля и предъявляемые к нему требования устанавливаются отдельно для каждого вида ИЭТ в технических условиях на изделие. Сложность ИЭТ определяет сложность ВКО и его состав – от простейшего измерителя омического сопротивления резисторов до сложнейших измерительно-информационных комплексов с управлением от ЭВМ, которые применяются, например, при выходном контроле БИС, СБИС, микропроцессоров, лазеров.

По мере совершенствования и усложнения ИЭТ увеличивается число контролируемых параметров и показателей, возрастают требования к точности их измерений. Это обусловливает необходимость опережающего развития контрольного оборудования с учётом тенденций развития контролируемых ИЭТ (т. е. контрольно-измерительные устройства должны разрабатываться и выпускаться до того, как начинается массовый выпуск соответствующих ИЭТ), модернизации существующего и разработки нового ВКО, которое обеспечивало бы требуемый уровень выходного контроля. До 1950-х гг. потребности серийного производства наиболее массовых ИЭТ (резисторов, полупроводниковых диодов, транзисторов и т. п.) вполне удовлетворял выборочный по партиям изделий выходной контроль, осуществлявшийся практически вручную с использованием простейших измерительных средств (амперметр, вольтметр, омметр, источник калиброванного напряжения). Такой выходной контроль обеспечивал проверку от десятков до сотен изделий за 1 ч при погрешности измерений порядка 10–20 %. С повышением требований к техническому уровню и качеству ИЭТ и увеличением их выпуска существенно изменились организация и оборудование выходного контроля. Уже в 1960-х гг. разработаны и получили широкое распространение автоматизированные контрольно-измерительные устройства с цифровой индикацией измеряемых величин, что способствовало повышению точности измерений в 2–3 раза. Кроме того, эти устройства позволили документировать результаты измерений непосредственно в процессе выходного контроля и передавать их на ЭВМ для статистической обработки и определения причин брака. С 1970-х гг. в производстве практически всех видов ИЭТ применяются автоматизированные контрольно-измерительные комплексы с управлением от ЭВМ. Такие комплексы обеспечивают непрерывный сплошной выходной контроль со средней производительностью несколько тысяч ИЭТ за 1 ч; при этом погрешность измерений составляет 0,01–0,001 %. Введение в состав комплекса ЭВМ позволяет автоматически по заданной программе устанавливать очерёдность измерений параметров и задавать нужные режимы измерений; одновременно проводить измерения на разных видах однотипных ИЭТ; корректировать погрешность измерений непосредственно в процессе измерений; осуществлять автоматическую разбраковку ИЭТ по любому заданному показателю; контролировать на различных стадиях технологический процесс и активно влиять на его ход; выполнять статистическую обработку результатов выходного контроля. Автоматизированные комплексы выходного контроля функционируют в составе автоматизированных систем управления технологическими процессами на различных участках производства ИЭТ. Полный и всесторонний выходной контроль большинства сложных ИЭТ, таких, например, как СБИС и микропроцессоры, возможен практически только на автоматизированных контрольно-измерительных комплексах, обеспечивающих проведение выходного контроля по всем параметрам ИЭТ, в широком диапазоне частот (от нескольких герц до сотен гигагерц), а также в импульсных режимах с частотой повторения импульсов до нескольких мегагерц.