X-ray spectroscopy

an introduction / Bipin Kumar Agarwal
Автор:
Место издания:
Berlin
Издатель:
Springer-Verlag
Дата издания:
Объём:
xv, 419 s. : illustrations, diagram, table
Серия:
Springer series in optical sciences ; 15.
Язык текста:
Английский
Дата публикации: