Скейлинг в оптических характеристиках апериодических структур с симметрией самоподобия

7 с.

На основе численного моделирования рассмотрены свойства дифракционных решеток и многослойных систем, построенных с использованием одномерных моделей квазикристаллов. Показано, что существует прямая связь между симметрией самоподобия квазикристаллов и скейлингом в характеристиках указанных оптических устройств. Дана оценка степени структурного соответствия графических представлений геометрических свойств используемых моделей, картин дифракции света на решетках и спектров пропускания многослойных систем. Показано, что определенные типы симметрии самоподобия обеспечивают высокую устойчивость характеристик апериодических дифракционных решеток к изменению соотношения размеров образующих элементов.

Русский

Кристаллография. – 2010. – Т. 55, № 6. – С. 1024–1030.