Скейлинг в оптических характеристиках нанокластерных образований

4 с.

Рассмотрена возможность идентификации систем наночастиц на основе сопоставления скейлинговых параметров их геометрии и картин дифракции зондирующего излучения. Сопоставление проведено применительно к фрактальным объектам с различным типом симметрии самоподобия. Рассмотрена связь между скейлингом в различных пространственных распределениях наночастиц и их фурье-спектрами.

Русский

Известия Российской академии наук. Серия физическая. – 2015. – Т. 79, № 12. – С. 1691–1694.